はじめに
スマートフォンやノートPC等のモバイル端末を製造するメーカーは多数あり、各社が独自にその製品や部品に対する耐衝撃性試験を実施していました。しかし、メーカーごとに実施する衝撃試験の要求レベルが異なるため、その製品に組み込まれる部品や製品自体の耐衝撃レベルを最低限保証することを目的とし、各メーカーの技術者が意見を集約することでJEDECによる衝撃試験規格が規定されました。このJEDECによる衝撃評価試験を実施することにより、耐衝撃性に優れたモバイル端末の開発に大きく貢献しています。
試験条件と適切な試験機
部品及び製品に対する試験条件は多数あり、Table 1, Table 2にまとめます。Table1は部品に対する衝撃試験条件であり、Table2は部品を組み合わせたデバイスに対する衝撃試験条件です。各試験条件はメーカーごとに選別して実施しており、部品に対しては1試料に対して30回、製品に対しては12回の衝撃試験が求められます。それらの試験品の評価には精度の高い衝撃波形（誤差：最大加速度±10%、速度変化±10%、作用時間±15%）を繰り返し発生させる必要があり、それを可能にするのが衝撃試験装置です。当社の衝撃試験装置を使用すれば、これらの全ての試験条件の加速度波形を発生させることが可能であり、繰り返し誤差±10%以内で衝撃波形を出力することが出来るため、モバイル端末の部品から製品本体まで全体を通した耐衝撃性能を高精度に評価することが可能です。
Table1 Device or subassembly free state test levels
Table2 Subassembly mounted state test levels
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