モバイル端末に内蔵される小型部品の高加速度衝撃試験について（40,000G（400,000m/s2）、50,000G（500,000m/s2））

　スマートフォンやタブレットなどのモバイル端末が落下する際、その中に組み込まれている小型部品はとても大きな衝撃を受けることから、例えば、プリント基板に搭載されているコイル（インダクタ）やキャパシタ（コンデンサ）では30,000G（300,000m/s²）以上の高加速度を印加する衝撃試験の要求が増えています。

　当社で販売している高加速度衝撃試験装置は、試験機の耐久性等を考慮し、仕様としては最大発生加速度30,000Gとしていますが、当社における試験機貸し出しサービスもしくは受託試験では40,000Gや50,000Gの衝撃加速度を発生する試験にも対応をしております。

　詳細についてはお気軽にご相談ください。