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神栄テストマシナリー
神栄テストマシナリー

衝撃試験装置 HDST シリーズ

High Speed Drop Shock Tester HDST Series

衝撃試験装置 HDSTシリーズはパソコン部品や携帯電話等の小型軽量の製品に高加速度衝撃を加えて製品の耐衝撃性を試験する装置です。

衝撃試験装置 HDST-150

衝撃試験装置 HDST-150

特徴

  • JEDEC規格/JEITA規格対応解析システム
  • 緩衝体の交換により所定の衝撃作用時間となる正弦半波パルスを発生
  • 剛性の高い衝撃台によって高い再現性を実現
  • 防振ベース機構と防音ラックの組合せにより低騒音と低振動を実現
  • 衝撃台の再衝突防止機構
  • 新機構によりテストサイクル向上
  • 安全装置が標準装備

アプリケーション

  • JEDEC規格/JEITA規格準拠の衝撃試験方法に規定された衝撃の厳しさを、衝撃台上に固定した評価基板に繰り返し与えると共に試験品に通電して、電気抵抗(電圧)を高速で取り込み解析する計測・解析装置によって、耐衝撃の評価・比較ができます。
衝撃試験装置 HDST-230

衝撃試験装置 HDST-230

特徴

  • ゴムパッドの交換により所要の衝撃作用時間となる正弦半波パルスを発生
  • 演算制御による再衝突防止機構
  • 剛性の高い衝撃台
  • 防振ベース機構で周囲に衝撃の影響を与えません

アプリケーション

  • パソコン部品や携帯電話等の小型軽量の製品に高加速度衝撃を加えて製品の耐衝撃性を試験する装置です。
衝撃試験装置 HDST-230HS

衝撃試験装置 HDST-230HS

特徴

  • 最大衝撃加速度 49,000m/s2(0.5ms)
  • 加速機構により、“より低い”試験機高さでの高加速度発生に成功
  • 自動制御により操作性、安全性を確保
  • 効果的な防振ベースにより環境に対応
  • 当社解析装置ショックマネージャとの組み合わせにより、各種解析が可能

アプリケーション

  • 携帯電話、ノートPC、HDD等の衝撃試験
  • 基板や各種機構部品の衝撃試験
  • 各種電子部品の衝撃試験 等
衝撃試験装置 HDST-300

衝撃試験装置 HDST-300

特徴

  • ゴムパッドの交換により所要の衝撃作用時間となる正弦半波パルスを発生
  • 演算制御による再衝突防止機構
  • 剛性の高い衝撃台
  • 防振ベース機構で周囲に衝撃の影響を与えません

アプリケーション

  • パソコン部品や携帯電話等の小型軽量の製品に高加速度衝撃を加えて製品の耐衝撃性を試験する装置です。

仕様

型式 HDST-150 HDST-230 HDST-230HS HDST-300
衝撃台サイズ(mm) 150 × 160 230 × 230 230 × 230 300 × 300
供試品最大質量(kg) 1 10 5 20
衝撃波形 正弦半波
衝撃加速度範囲(m/s²) 14700(1500G) 29400(3000G) 49000(5000G) 29400(3000G)
衝撃作用時間範囲(ms) 0.5 / 1.0 0.5 / 1.0 / 2.0
防振ベース 空気バネ 及び 油圧ダンパー装置
再衝突防止機構 空圧-油圧型装備
制御方式 単発-自動繰返し試験
本体寸法(W × D × Hmm) 1000×800×2330 1000×600×2675 1000×600×3970 1100×640×2700
本体質量(kg) 600 1200 1400 1500
制御装置寸法
(W × D × Hmm)
530 × 400 × 950
電源 200V、10A
適合規格 JEDEC(JESD22-B111)、JEITA (ET-7409/106)、
MIL-STD-810F、JIS C 60068-2-27、IEC 60068-2-27-87

オプション

ショックマネージャ
SM-500型
所要衝撃加速度を入力して, 試験機設定条件の算出, 多チャンネルの衝撃加速度計測の各種解析
SM500
高加速度機構 衝撃作用時間が0.2 ・ 0.5 ・ 1 ・ 2で5000 ~ 50000m/s2の高加速度を発生
HGPシリーズ
安全装置 マットスイッチ ・ 光電スイッチ
安全装置詳細

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