スマートフォンなど携帯端末用電子部品の衝撃試験（30,000G以上の衝撃加速度）

スマートフォンやタブレットなど電子端末が落下した際、内部の基板や電子部品は瞬時的に非常に高い10,000Gを超える衝撃パルスを受けます。

基板や電子部品の耐衝撃性を評価する場合、従来は電子端末の筐体に組み込むかたちで落下試験が行われていましたが、これでは設計形状が決まるまで評価が出来ないという問題もあり、また、あらかじめ電子部品単体の耐衝撃性が確保されていれば、電子端末を設計する側も部品選定が容易になることから、基板や電子部品自体に衝撃を与え評価する要望が高まっています。

空圧式で10,000G以上の高加速度を発生する衝撃試験機もありますが、再現性や繰り返し性に難があり、試験としては問題があります。

当社では、高い再現性と繰り返し性で10,000Gを超える高加速度発生を可能とする独自技術を開発し、10,000G（0.25ms）、20,000G（0.1ms）、30,000Gなど、設定した高加速度波形を繰り返し精度良く発生する衝撃試験の提供を可能としました。

高加速度発生システムを世界各国へ提供する一方、つくば試験所では受託試験も承っております。

電子部品や基板の耐衝撃性の評価についてご質問やご要望がございましたら、お気軽にご相談ください。