高加速度衝撃試験機 概要
高加速度衝撃試験機PDST230、 HDSTシリーズはパソコン部品や携帯電話等の小型軽量の製品に高加速度衝撃を加えて製品の耐衝撃性を試験する装置です。PDST230は衝撃台をバネで引き込む独自機構を採用することで、試験機サイズがコンパクトになり、設置場所を選びません。また、HDSTシリーズは高い衝撃加速度を高精度に生成できる高性能モデルです。
アプリケーション例
高加速度衝撃試験機は、主に電子機器内部に組み込まれている小型電子部品を対象にしており、比較的高加速度（1000G以上）が要求される衝撃試験に適しています。オプションの高加速度発生装置HGPシリーズを利用することで最大30,000Gまで発生可能です。
| 験品 | 試験内容 |
| スマホ内蔵電子部品 | スマホ内部に組み込まれた電子部品の衝撃試験（例10,000G-0.2ms） |
| ロケット用部材 | ロケット発射時の衝撃試験。SRSに対応した衝撃試験規格が多い。 |
| 基板 | 電子機器に内蔵される回路基板の耐衝撃性を評価する。JEDEC試験が代表的。 |
| 半田接合 | 基板とICが接続されている鉛の接続に対し、衝撃耐性を評価。JEDEC試験が代表的。 |
| エアバッグセンサ | エアバッグ検出確認用の衝撃試験 |
衝撃試験の基礎
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